鍍層測厚儀膜厚測試儀標(biāo)準(zhǔn)片校正片

標(biāo)準(zhǔn)片可應(yīng)用各種X射線測厚儀品牌

用于校正鍍層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)曲線及添加應(yīng)用程序

韓國XRF-2000測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片：

銅/鎳/鋅/鉻/銀/金/鈀/錫/鋅鎳合金等

標(biāo)準(zhǔn)片可訂制，均附帶標(biāo)準(zhǔn)證書

鍍層測厚儀膜厚測試儀標(biāo)準(zhǔn)片校正片

標(biāo)準(zhǔn)片是X射線測厚儀在測金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測試檔案。

是膜厚測試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法，是測量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系，來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。

以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測量鍍層樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。 

電鍍層測厚儀校正片膜厚標(biāo)準(zhǔn)片

銅，鎳，鉻，鋅，金，銀，錫，鋅鎳，鈀各種厚度及規(guī)格均可訂制

校準(zhǔn)片均附帶證書